Automātiskā optiskā pārbaude

Mirtec MV-9DL

Stāvoklis: labi (lietots), Ražošanas gads: 2015, Funkcionalitāte: pilnībā funkcionāls, iekārtas/transportlīdzekļa numurs: Zeile 270, Lietota inline automātiskā 3D pārbaudes sistēma (AOI) uzstādītu drukas plākšņu kontrolei. Defekti: nobīdes, šķībi piespraudes u.c. Ir pieejamas vairākas iekārtas, ražošanas gadi 2013–2016. Lūdzu, nosauciet savu piedāvājuma cenu. Pārdošana tikai Eiropas (ES) teritorijā, ieskaitot Turciju; Apvienoto Karalisti, Šveici. Tehniskā informācija skatīt pievienotajā aprakstā. Bez iepakojuma; jebkādas garantijas tiesības tiek izslēgtas. Nwsdpfx Aowzv Itsm Asf Ja plānojat iekārtu demontēt paši, lūdzam to norādīt savā piedāvājumā. Mēs neuzņemamies atbildību par tehnisko datu precizitāti, komplektācijas un instrumentu pilnīgumu, kā arī par noteikumu ievērošanu attiecībā uz drošības un vides prasībām, kas minētas nelaimes gadījumu novēršanas noteikumos.

Stāvoklis: teju kā jauns (lietots), Ražošanas gads: 2024, Funkcionalitāte: pilnībā funkcionāls, Zeiss XB 350 tipa skenējošais elektronu mikroskops Aprīkojums un piederumi • bez FIB kolonnas • SmartSEM un SmartFIB programmatūra • GIS ar platīna prekursoru Nodpfx Amow Rdvvs Aowf • integrēts plazmas tīrītājs • EDX Oxford Xplore 30 (tostarp interfeiss un programmatūra) • automātiska 200 mm slūža • elektriskās caurlaides (2 x 15 kanāli) • cirkulācijas dzesētājs • Quiet Mode vakuuma rezervuārs • ... kā arī galds, monitors, vadības konsoles (Zeiss īpašā tastatūra + vadības sviras) un dažādi paraugu turētāji Iekārtošana: 2024. gada augusts Atrašanās vieta: Mainca Pieejamība: pēc vienošanās pieejams īsā termiņā. Iekārta vēl darbojas, to var apskatīt un demonstrēt. Iekārtai nav nekādu defektu vai bojājumu, tā ir pilnībā darba kārtībā. Papildu informācija pēc pieprasījuma!

Stāvoklis: gatavs lietošanai (lietots), Ražošanas gads: 2015, Iekārta darba kārtībā. Atrodas Eiropas Savienībā. Nodpfjw E Eytox Am Aswf

Ražošanas gads: 2016, stāvoklis: lietots, Iekārta ir darba kārtībā. Njdpfx Aexy R Dqom Aowf Papildus iekārtas pieejamas no 2015. līdz 2016. gadam. Pamatparametri redzami attēlos. Papildu informācijai un cenai lūdzam sazināties! Iekārta atrodas ES teritorijā.

Stāvoklis: ļoti labs (lietots), Ražošanas gads: 2018, Ļoti ātra un precīza inspekcija liela apjoma ražošanai Z-izšķirtspēja: 0,5 µm Z-diapazons: līdz 30 mm (1,2") Slīpie skatīšanās kameras Kameru megapikseļu skaits: 8 Ortogonālā kamera Izšķirtspēja: 10 µm Skata lauks: 50 mm x 50 mm (2" x 2") Inspekcijas ātrums: līdz 65 cm2/s Programmatūra Lietotāja saskarne: Viscom vVision/EasyPro Nwodpfxowkfuue Am Ajf SPC: Viscom SPC (statistiskā procesa kontrole), atvērtā saskarne (pēc izvēles) Verifikācijas stacija: Viscom vVerify/HARAN Attālinātā diagnostika: Viscom SRC (programmatūras attālinātā vadība) (pēc izvēles) Programmēšanas stacija: Viscom PST34 (pēc izvēles) Sistēmas dators Operētājsistēma: Windows® Procesors: Intel® Core™ i7 PCB apstrāde PCB izmēri: 508 mm x 508 mm (20" x 20") Transportēšanas augstums: 850–950 mm ± 20 mm (33,5"–37,4" ± 0,8") Platuma pielāgošana: Automātiska Transportēšanas veids: Viena sliede PCB nostiprināšana: Pneimatiska Augšējā transporta atstarpe: 50 mm (2") Apakšējā transporta atstarpe: 45 mm (1,8"), līdz 85 mm (3,3") pēc izvēles; 40 mm (1,6") ar PCB balstu Citi sistēmas dati Pozicionēšanas/apstrādes iekārta: Sinhronie lineārie motori Saskarnes: SMEMA Elektrobarošanas prasības: 400 V (citi spriegumi pēc pieprasījuma), 3P/N/PE, 8 A, darba spiediens 4–6 bar Sistēmas izmēri: 994 mm x 1565 mm x 1349 mm (39,1" x 61,6" x 53,1") (P x A x D) Svars: 720 kg (1587 lbs)

Ražošanas gads: 2014, stāvoklis: labi (lietots), Iekārta darba kārtībā ar šādu komplektāciju: Divpakāpju 2 x HM galva 2 x ScanCamera Nwsdpfx Asvfpmlsm Aef 2 x MultiCamera 2 x Uzgaļu stacija 4 x FES32 Izsekojamības pakotne Papildu informācijai, lūdzu, sazinieties!

Stāvoklis: lietots, Ražošanas gads: 2001, Galds garums 600 mm Galds platums 380 mm Vadība: FANUC 16i-M Garuma gājiens 500 mm Nodswmwwyspfx Am Ajwf Šķērsvirziena gājiens 300 mm Maksimālais slīpēšanas diametrs 230 mm Koordinātu slīpēšanas iekārta | HAUSER - S35-400 Iekārta ir labā, kopta stāvoklī. Lūdzu, ņemiet vērā, ka tehniskā informācija ņemta no salīdzināmām iekārtām. Iekārtas video no rūpnīcas vietas nosūtām pēc pieprasījuma. - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - #Tagi: S35400 | S35 400 | S35CNC400 | S35 | S-35 | S 35

Ražošanas gads: 2009, stāvoklis: gatavs lietošanai (lietots), Pievienotā jauda: 18 kW, taču 2017. gadā veikta kapitālā remonts. Iespējama apskate. Nsdpfx Amen Htkto Aowf

Stāvoklis: labi (lietots), Ražošanas gads: 2008, Aukstuma tunelis atpakaļgaitā Nwjdpfx Amsrdwl Ds Aof Rāmju transports (rāmi nav iekļauti) Lodēšanas platums 330 mm

Ražošanas gads: 2023, stāvoklis: gatavs lietošanai (lietots), Šī KEYENCE IM-8020 optisko mērījumu iekārta tika ražota 2023. gadā. Tai ir visaptverošs komponentu komplekts, tostarp mērīšanas galva, vadības bloks, stikla plāksnes, programmatūra, stiprinājuma ierīce, stikla skala, svītrkodu skeneris, apgaismojums un stili. Apsveriet iespēju iegādāties šo optisko mērīšanas iekārtu KEYENCE IM-8020. Sazinieties ar mums, lai iegūtu vairāk informācijas. Papildu informācija • Mērīšanas galva ar 200 × 200 mm mērījumu lauku • Daudzleņķa apgaismojums ar fotoelektrisku sensoru • Digitālais mērīšanas projektors • Vadības bloks • Maiņstrāvas kabelis • Pele un tastatūra • Rotācijas bloks (IM-8000) • Stikla plāksnes • Programmatūra • Stiprinājuma ierīce • Stikla skala • Svītrkoda skeneris • Apgaismojums • StiliPapildu piederumi: Nwodpox D Dl Nofx Am Ajf • Testa zondes komplekti: 80 gab., diapazons 0,3-0,99 mm • Testa zondes komplekti ar rokturiem: 350 gab., diapazons 0,4-4 mm. • Mērierīču komplekti: 800 gab., diapazons 4-12 mm • Robeždakšu mērinstrumenti: 265 gab., diapazons 1-43 mm • Uzstādīšanas gredzeni: 50 gab., diapazons 0,6-47 mm • Vītņu aizbāžņu mērinstrumenti: 170 gab., diapazons M1-M24 un dažādas collu vītnes. • Vītņu gredzenu mērinstrumenti: 265 gab., diapazons M1-M63 un dažādas collu vītnes • Mikrometri: 70 gab., diapazons 0-150 mm (analogie un digitālie)Pēc izvēles: Kompleksi mērinstrumentu komplekti