Bruker Microflex iegādāties lietotu (4)

Stāvoklis: lietots, Šis sludinājums attiecas uz Bruker Microflex masas spektrometru. Iekārta ir pilnībā darba kārtībā un gatava tūlītējai lietošanai. Bruker Microflex ir matricai asistētas lāzera desorbcijas/ionizācijas laika lidojuma masas spektrometrs (MALDI-TOF MS), kas galvenokārt tiek izmantots mikroorganismu, biomolekulu (piemēram, olbaltumvielu un peptīdu) un polimēru ātrai identificēšanai. Tas ir Bruker MALDI Biotyper sērijas instruments. Galvenās sastāvdaļas: - Lāzera avots: Slāpekļa vai cietvielu lāzers (parasti 337 nm UV) - Jonu avots: Vakuuma kamera ar MALDI mērķplati - Lidojuma caurule: Mēra jonu laika lidojumu - Detektors: Pārvērš jonu pienākšanas laikus masas spektrā - MALDI mērķplate: Metāla plate paraugu aplikācijai ar matricu Darbības princips (vienkāršoti): - Parauga sagatavošana: Analītu sajauc ar MALDI matricu (piemēram, α-ciano-4-hidroksikanīnskābi). - Lāzera jonizācija: Lāzers iedarbojas uz matricu, jonizējot paraugu. - Jonu paātrināšana: Joni tiek paātrināti TOF analizatorā. - Detektēšana: Tiek mērīts laiks līdz detektoram; mazāki joni sasniedz detektoru ātrāk. - Spektrs: Masas/uzlādes attiecība (m/z) tiek attēlota pret intensitāti. Fiziskās specifikācijas (aptuvenas): - Izmērs: Galda iekārta (apmēram 80 cm platumā) Nsdjxhdxqspfx Akcecr - Svars: ~100–120 kg (atkarīgs no modeļa/versijas) - Barošana: Standarta laboratorijas elektriskais pieslēgums - Darbības vide: Nepieciešama tīra, stabila temperatūra un mitruma apstākļi

Stāvoklis: lietots, Bruker Tips: Tensor 27 IR spektrīmetrs Pilnīga paraugu elastība. Pateicoties uzlabotajam QuickLockTM mehānismam un priekšpusē esošajai fiksācijas pogai arī apjomīgs piederums tiek uzstādīts ātri un, galvenokārt, droši. Turklāt, INVENIO var aprīkot ar trim programmatūras vadāmiem staru izejas punktiem dažādiem ārējiem moduļiem. Ncsdpfevwciksx Akcor FPA mikro- un makroattēlveidošana Maināma ārējā paraugu kamera (pa kreisi vai pa labi) individuāliem eksperimentiem Optiskās šķiedras savienojums ar zondes šķidrumiem un cietām vielām Integrējoša sfēra Automātiska paraugu ņemšana šķidrumiem Augstas caurlaidības analīzes modulis HTS-XT Atstarošanas vienība gaisa–ūdens fāzes robežai Un vēl daudz kas cits! Stāvoklis: lietots Komplektācija: (Skatīt attēlu) (Tehnisko datu izmaiņas un kļūdas ir iespējamas!) Papildu jautājumus labprāt atbildēsim pa tālruni.

Stāvoklis: lietots, Izņemts no darba kārtībā esošas iekārtas. Lūdzu, apskatiet arī mūsu citus sludinājumus. Nedpfswxax Djx Akcecr

Stāvoklis: ļoti labs (lietots), Tips: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 skenējošais elektronu mikroskops (PC-SEM) Mūsdienīgs, augstas izšķirtspējas, digitālais skenējošais elektronu mikroskops ar jaunizstrādātu elektronu optiku un intuitīvu, grafisku lietotāja saskarni (GUI) uz Microsoft Windows XP Professional platformas. Ierīces komplektācija ar šādām īpašībām: - Palielinājuma diapazons: 5 X - 300 000 X - Paātrinājuma spriegums: 0.3 - 30 kV - Volframa adatas katode (iespējama LaB6 katode kā opcija) - Liels pilnībā motorizēts parauga galds ar ekscentrisku slīpumu, t.sk. - Grafiska navigācija parauga turētājā - Vienkārša parauga navigācija ar Click-Center-Zoom funkciju - Attēla lauka vadīta navigācija (2 navigatori) - Relatīvās koordinātu navigācija - Parauga pozīciju saglabāšana un atjaunošana - Regulējamas attēla lauka robežas uz testējamā galda - Attēla lauka korekcija rotācijas laikā datorvadāmas ekscentriskās rotācijas ceļā - Attēla lauka korekcija slīpuma laikā datorvadāmas ekscentriskās slīpuma ceļā - Maksimālā slīpuma leņķa aprēķins pēc parauga ģeometrijas - Automātiska fokusa saglabāšana parauga pārvietošanas laikā Z virzienā Njdpfxsmn Rcqs Akcecr - Gudrie galapozīciju slēdži motorizētajām asīm Parauga galda kustību apjomi: - x = 125 mm - y = 100 mm - z = 5 līdz 80 mm (nepārtraukti) - T = -10°C līdz +90°C - R = 360° (neierobežots) - Sekundāro elektronu detektors darbībai augstā vakuumā - Jaunās paaudzes superkonusveida objektīva lēca nodrošina augstāko attēla izšķirtspēju arī lielos slīpuma leņķos - Garantētā izšķirtspēja SE attēlā: 3 nm pie 30 kV un 15 nm pie 1 kV - Vienlaicīga tiešraides attēlu attēlošana no vairākiem detektoriem - Vienkārša parauga pozicionēšana ar Click-Center-Zoom - Jaudīgas attēla mērīšanas funkcijas - Filmēšanas funkcija dinamisko procesu reģistrēšanai - Daudzpusīga paraugu kamera ar dažādām paplašināšanas iespējām: brīvie atloki, piem. EDX, WDX, EBSD, katodoluminiscence u.c. - Mazapkopju un zemas nolietošanās, klusa sūkņu sistēma: priekšsūknis, vibrācijas brīva difūzijas sūknis ar lielu veiktspēju un elektromagnētisko vārstu vadību - Plaša aizsardzība pret kļūdainu darbību un ārējo plašsaziņas līdzekļu atteici - Ergonomisks, augstumā regulējams sistēmas galds SEM starta komplekts: - 2 paraugu turētāji - Instrumentu komplekts - 6 rezerves katodes Papildaprīkojums SEM: - Turbomolekulārais sūknis standarta difūzijas sūkņa vietā - Izmantojot turbomolekulāro sūkni, REM (SEM) darbībai vairs nav nepieciešams dzesēšanas ūdens Cita SEM komplektācija: - Dators REM vadībai, t.sk. TFT monitors - ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX paplašinātā sistēma - Bruker EDX programmatūra tiek nodota jaunajam īpašniekam pēc pirkuma! - Slāpekļa nebojāts, enerģijas dispersijas rentgenanalīzes sistēma, t.sk.: - SDD detektors ar 127 eV vai labāku enerģijas izšķirtspēju - visu elementu noteikšana sākot no bora - Bez vibrācijām, bez apkopes. Peltjē dzesēts (bez slāpekļa) - Pulsa procesors - TFT monitors - Spektru mērīšana un elementu identificēšana - Pilnībā automātiska, kvantitatīva, bez standarta elementu analīze - Attēlu uztveršana - Ļoti ātra kvalitatīva lineāra skenēšana - Ļoti ātra kvalitatīva elementu kartēšana - Datu pārvaldības un arhivācijas sistēma - Ziņojumu ģenerēšana un rezultātu izvade - Datu komunikācija - Uzstādīšana un apmācība - HyperMap - Vairāku punktu analīze - Bruker xFlash detektors (SDD) ar signālu apstrādes bloku SVE III Piegādes komplekts: (Sk. fotoattēlus) Stāvoklis: lietots (Piezīme: Tehniskie dati un specif