Skenēšanas elektronu mikroskops (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Skenēšanas elektronu mikroskops (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
fiksēta cena bez PVN
35 000 €
Stāvoklis
Lietots
Atrašanās vieta
Borken 

Rādīt attēlus
Rādīt karti
Dati par iekārtu
- Mašīnas apraksts:
- Skenēšanas elektronu mikroskops (PC-SEM)
- Ražotājs:
- Jeol
- Modelis:
- JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
- Stāvoklis:
- ļoti labs (lietots)
Cena un atrašanās vieta
fiksēta cena bez PVN
35 000 €
- Atrašanās vieta:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Zvanīt
Piedāvājuma informācija
- Ieraksta ID:
- A10874957
- Atsauces Nr.:
- 23543
- Pēdējoreiz atjaunots:
- 15.11.2460630
Apraksts
Šeit mēs piedāvājam Jums Jeol skenējošo elektronmikroskopu.
Jeol JSM-6490 skenējošais elektronmikroskops (PC-SEM)
Mūsdienīgs, augstas izšķirtspējas, digitāls skenējošais elektronmikroskops ar jaunizstrādātu elektronu optiku un intuitīvu, grafisko lietotāja saskarni (GUI) balstītu uz Microsoft Windows XP Professional.
Palielinājuma diapazons: 5 X - 300,000 X
Paātrinājuma spriegums: 0,3 - 30 kV
Volframa pavediena katode (pēc izvēles LaB6 katode)
Liels pilnībā motorizēts parauga galds ar eucentrisku slīpumu, iekļaujot:
Grafiska navigācija uz parauga īpašnieka
Vienkārša paraugu navigēšana ar Click-Center-Zoom
Redzeslauka vadība ar 2 navigatoriem
Relatīvās koordinātas navigācija
Iespēja saglabāt un atkārtoti pozicionēt paraugus
Iestatāmas parauga galda lauka izvēles metodes
Redzeslauka korekcija rotācijas laikā ar datorvadību eucentriskai rotācijai
Redzeslauka korekcija slīpšanas laikā ar datorvadību eucentriskai slīpšanai
Iespējamā slīpuma leņķa aprēķins atkarībā no parauga ģeometrijas
Automātiska fokusēšanas turēšana, pārvietojot paraugu Z virzienā
Inteliģenti gala slēdži motorizētām asīm
Parauga galda kustības ceļš:
x=125 mm
y=100 mm
z= 5 līdz 80 mm (nepārtraukti)
T= -10°C līdz +90°C
R= 360° (bezgalīgs)
Sekundāro elektronu detektors augstam vakuumam
Jaunās paaudzes, superkoniskā objektīva lēca nodrošina augstāko izšķirtspēju arī lielos slīpuma leņķos
Garantēta izšķirtspēja SE attēlā: 3 nm pie 30 kV un 15 nm pie 1 kV
Vienlaicīgs vairāku detektoru dzīvā attēla režīms
Vienkārša paraugu navigēšana ar Click-Center-Zoom
Jaudīgas attēlu mērīšanas funkcijas
Filmu režīms dinamisku procesu reģistrācijai
Daudzveidīga paraugu kamera ar dažādām paplašināšanas iespējām: brīvi atverami atloki, piemēram, EDX, WDX, EBSD, katodoluminiscence utt.
Zemas apkopes un nolietojuma, klusa sūknēšanas sistēma, kas sastāv no priekšsūkņa, bezvibrācijas augstjaudas difūzijas sūkņa un elektromagnētiskās vārstu vadības
Plaša kļūdu aizsardzība pret nepareizu darbību un ārējo mediju atteici
Ergonomisks, augstumā regulējams sistēmas galds
SEM sākuma komplekts: 2 paraugu turētāji, instrumentu komplekts, kā arī 6 rezerves katodes
Papildu aprīkojums:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekulārā sūknis
aizvieto standarta difūzijas sūkni
Izmantojot turbomolekulāro sūkni, nav nepieciešams dzesēšanas ūdens SEM darbībai.
Papildu komplektācija:
Dators SEM vadībai ar TFT monitoru
OX200 Bruker Quantax 200 EDX sistēma EXTENDED
Bezslāpekļa enerģijas dispersīvās rentgena analīzes sistēma, tai skaitā:
SDD detektors ar 127 eV vai labāku enerģijas izšķirtspēju
Visu elementu noteikšana no bora
Bez vibrācijām, bez apkopes. Peltier dzesēšana (bez slāpekļa)
Pulsa procesors
TFT monitors
Spektru mērīšana un elementu identifikācija
Pilnībā automātiska, kvantitatīva analīze bez standartiem
Attēlu iegūšana
Ļoti ātra kvalitatīva līniju skenēšana
Ļoti ātra kvalitatīva elementu kartēšana
Datu pārvaldība un arhivēšanas sistēma
Ziņojumu veidošana un rezultātu izdošana
Datu komunikācija
Uzstādīšana un apmācība
HyperMap
Vairāku punktu analīze
Bruker xFlash detektors (SDD) ar signālapstrādes bloku SVE III
Tips: Jeol JSM-6490
Piegādes komplektācija: (sk. foto)
Knjdpfx Aaomn Rcqsmjd
Stāvoklis: lietots / used
(Iespējamas izmaiņas un kļūdas tehniskajos datos, specifikācijās!)
Papildu jautājumus labprāt atbildēsim telefoniski.
Sludinājums tika tulkots automātiski, tāpēc tajā varētu būt dažas tulkošanas kļūdas.
Jeol JSM-6490 skenējošais elektronmikroskops (PC-SEM)
Mūsdienīgs, augstas izšķirtspējas, digitāls skenējošais elektronmikroskops ar jaunizstrādātu elektronu optiku un intuitīvu, grafisko lietotāja saskarni (GUI) balstītu uz Microsoft Windows XP Professional.
Palielinājuma diapazons: 5 X - 300,000 X
Paātrinājuma spriegums: 0,3 - 30 kV
Volframa pavediena katode (pēc izvēles LaB6 katode)
Liels pilnībā motorizēts parauga galds ar eucentrisku slīpumu, iekļaujot:
Grafiska navigācija uz parauga īpašnieka
Vienkārša paraugu navigēšana ar Click-Center-Zoom
Redzeslauka vadība ar 2 navigatoriem
Relatīvās koordinātas navigācija
Iespēja saglabāt un atkārtoti pozicionēt paraugus
Iestatāmas parauga galda lauka izvēles metodes
Redzeslauka korekcija rotācijas laikā ar datorvadību eucentriskai rotācijai
Redzeslauka korekcija slīpšanas laikā ar datorvadību eucentriskai slīpšanai
Iespējamā slīpuma leņķa aprēķins atkarībā no parauga ģeometrijas
Automātiska fokusēšanas turēšana, pārvietojot paraugu Z virzienā
Inteliģenti gala slēdži motorizētām asīm
Parauga galda kustības ceļš:
x=125 mm
y=100 mm
z= 5 līdz 80 mm (nepārtraukti)
T= -10°C līdz +90°C
R= 360° (bezgalīgs)
Sekundāro elektronu detektors augstam vakuumam
Jaunās paaudzes, superkoniskā objektīva lēca nodrošina augstāko izšķirtspēju arī lielos slīpuma leņķos
Garantēta izšķirtspēja SE attēlā: 3 nm pie 30 kV un 15 nm pie 1 kV
Vienlaicīgs vairāku detektoru dzīvā attēla režīms
Vienkārša paraugu navigēšana ar Click-Center-Zoom
Jaudīgas attēlu mērīšanas funkcijas
Filmu režīms dinamisku procesu reģistrācijai
Daudzveidīga paraugu kamera ar dažādām paplašināšanas iespējām: brīvi atverami atloki, piemēram, EDX, WDX, EBSD, katodoluminiscence utt.
Zemas apkopes un nolietojuma, klusa sūknēšanas sistēma, kas sastāv no priekšsūkņa, bezvibrācijas augstjaudas difūzijas sūkņa un elektromagnētiskās vārstu vadības
Plaša kļūdu aizsardzība pret nepareizu darbību un ārējo mediju atteici
Ergonomisks, augstumā regulējams sistēmas galds
SEM sākuma komplekts: 2 paraugu turētāji, instrumentu komplekts, kā arī 6 rezerves katodes
Papildu aprīkojums:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekulārā sūknis
aizvieto standarta difūzijas sūkni
Izmantojot turbomolekulāro sūkni, nav nepieciešams dzesēšanas ūdens SEM darbībai.
Papildu komplektācija:
Dators SEM vadībai ar TFT monitoru
OX200 Bruker Quantax 200 EDX sistēma EXTENDED
Bezslāpekļa enerģijas dispersīvās rentgena analīzes sistēma, tai skaitā:
SDD detektors ar 127 eV vai labāku enerģijas izšķirtspēju
Visu elementu noteikšana no bora
Bez vibrācijām, bez apkopes. Peltier dzesēšana (bez slāpekļa)
Pulsa procesors
TFT monitors
Spektru mērīšana un elementu identifikācija
Pilnībā automātiska, kvantitatīva analīze bez standartiem
Attēlu iegūšana
Ļoti ātra kvalitatīva līniju skenēšana
Ļoti ātra kvalitatīva elementu kartēšana
Datu pārvaldība un arhivēšanas sistēma
Ziņojumu veidošana un rezultātu izdošana
Datu komunikācija
Uzstādīšana un apmācība
HyperMap
Vairāku punktu analīze
Bruker xFlash detektors (SDD) ar signālapstrādes bloku SVE III
Tips: Jeol JSM-6490
Piegādes komplektācija: (sk. foto)
Knjdpfx Aaomn Rcqsmjd
Stāvoklis: lietots / used
(Iespējamas izmaiņas un kļūdas tehniskajos datos, specifikācijās!)
Papildu jautājumus labprāt atbildēsim telefoniski.
Sludinājums tika tulkots automātiski, tāpēc tajā varētu būt dažas tulkošanas kļūdas.
Piegādātājs
Piezīme: Reģistrējieties bez maksas vai piesakieties, lai iegūtu visu informāciju.
Reģistrēts kopš: 2012
Iesniegt pieprasījumu
Tālrunis & Fakss
+49 2861 ... sludinājumi
Šie sludinājumi varētu arī jūs ieinteresēt.
mazā sludinājuma
Essen
1 436 km
Rūpnieciskais robots
KUKA KR120 palletizer (nearly new)
KUKA KR120 palletizer (nearly new)
mazā sludinājuma
Borken
1 273 km
Skenējošais elektronu mikroskops
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
ZeissEVO 50 inkl. EDS Ultim Max 100
mazā sludinājuma
Bořitov
986 km
Termiskās apstrādes iekārtas
VeoliaRV F 15 FF3
VeoliaRV F 15 FF3
mazā sludinājuma
St. Gallen
1 470 km
Šķīdinātāju tīrīšanas sistēmas mod. alkohols
IFP-MetalcleanMetalclean-50 EASY
IFP-MetalcleanMetalclean-50 EASY
mazā sludinājuma
Denkendorf
1 245 km
Koordinātu mērīšanas mašīnas
Brown & SharpeDEA Mistral
Brown & SharpeDEA Mistral
mazā sludinājuma
Burgdorf
1 058 km
Tīra telpa / Tīra telpa ISO 6
ABNStericube Matrix ISO 6
ABNStericube Matrix ISO 6
mazā sludinājuma
Vācija
1 273 km
Pārnēsājams infrasarkanā starojuma tuvumā esošs analizators
Polychromix PhazirNIR-Spektrometer Model: 1624
Polychromix PhazirNIR-Spektrometer Model: 1624
mazā sludinājuma
Borken
1 273 km
Masas spektrometrs
SPECTRO AMETEKSpectromaxx
SPECTRO AMETEKSpectromaxx
mazā sludinājuma
Val-au-Perche
1 866 km
Lāzera griešanas iekārta
TRUMPFTruLaser Cell 8030 L45
TRUMPFTruLaser Cell 8030 L45
mazā sludinājuma
Itālija
1 878 km
Vertikālā apstrādes centrs
MazakVariaxis 500-5X II
MazakVariaxis 500-5X II
Jūsu sludinājums ir veiksmīgi dzēsts
Radās kļūda







































































































