Mērīšanas sistēmaASML
YieldStar S-200B
Mērīšanas sistēma
ASML
YieldStar S-200B
Izgatavošanas gads
2011
Stāvoklis
Lietots
Atrašanās vieta
Dresden 

Rādīt attēlus
Rādīt karti
Dati par iekārtu
- Mašīnas apraksts:
- Mērīšanas sistēma
- Ražotājs:
- ASML
- Modelis:
- YieldStar S-200B
- Izgatavošanas gads:
- 2011
- Stāvoklis:
- ļoti labs (lietots)
- funkcionalitāte:
- pilnībā funkcionāls
Cena un atrašanās vieta
Piedāvājuma informācija
- Ieraksta ID:
- A19967480
- Atsauces Nr.:
- DV10125
- Pēdējoreiz atjaunots:
- 10.9.2460929
Apraksts
Optiskā pārklājuma metroloģijas sistēma, Advanced Semiconductor Materials Lithography neatkarīga pārklājuma metroloģijas sistēma 300 mm vafeļu apstrādei, YieldStar S 200B
Modelis: S200B
Tips: YieldStar
Izgatavošanas gads: 2011
Tehniskie dati:
Vafeļu izmērs: 300 mm (12")
Dedpfjxbnt Ejx Abpsku
Lāzera avots: LPPS, ūdens dzesēšana
Vispārīga informācija:
YSS200B ir optiskā pārklājuma mērīšanas sistēma, kas nodrošina ātru un ļoti precīzu pārklājuma noviržu mērīšanu uz 300 mm vafelēm – parasti izmanto kā neatkarīgu iekārtu monitoram pēc kodināšanas, ražošanas procesa kontrolei.
Sludinājums tika tulkots automātiski, tāpēc tajā varētu būt dažas tulkošanas kļūdas.
Modelis: S200B
Tips: YieldStar
Izgatavošanas gads: 2011
Tehniskie dati:
Vafeļu izmērs: 300 mm (12")
Dedpfjxbnt Ejx Abpsku
Lāzera avots: LPPS, ūdens dzesēšana
Vispārīga informācija:
YSS200B ir optiskā pārklājuma mērīšanas sistēma, kas nodrošina ātru un ļoti precīzu pārklājuma noviržu mērīšanu uz 300 mm vafelēm – parasti izmanto kā neatkarīgu iekārtu monitoram pēc kodināšanas, ražošanas procesa kontrolei.
Sludinājums tika tulkots automātiski, tāpēc tajā varētu būt dažas tulkošanas kļūdas.
DOKUMENTI
19967480-01.pdf (PDF)Piegādātājs
Piezīme: Reģistrējieties bez maksas vai piesakieties, lai iegūtu visu informāciju.
Reģistrēts kopš: 2014
Tālrunis & Fakss
+49 351 8... sludinājumi
Jūsu sludinājums ir veiksmīgi dzēsts
Radās kļūda