HITEC mērīšanas mikroskops QZW 1 400 x 250 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Stāvoklis: ļoti labs (lietots), Funkcionalitāte: pilnībā funkcionāls, Mēs piedāvājam augstas klases HITEC QZW 1 mērierīču mikroskopu Tips: 250 x 170 mm M3 programmatūra: automātiska malu atpazīšana, tolerances pārbaude saskaņā ar DIN/ISO standartiem, elementu skats ar tolerances ievadi, detaļu skats ar izmēru anotāciju, reāllaika attēla skatījums mērīšanas laikā, papildus iespēja saglabāt attēlus dokumentācijai. Dell skārienjutīgais dators ar Windows 10 (var atjaunināt uz 11. versiju) Kalibrācijas sertifikāts derīgs līdz 2025. gada 31. jūlijam Fpodpfxoxwb Hqe Abpop MĒRĪJUMU DIAPAZONS X, Y ASĪS: 250 x 170 mm GARUMA MĒRĪJUMA KĻŪDA: 1,9 μm + L/100 (L mm) MĒRĪJUMU DIAPAZONS Z ASĪ: 150 mm Z-ASS MĒRĪJUMU SISTĒMA: pēc izvēles KAMERA: USB 3.0, 25 kadri/s, 2,0 megapikseļi OBJEKTĪVS: fiksēts vai pēc izvēles — tālummaiņas objektīvs 0,7x–4,5x (manuāli/motorizēti) PALIELINĀJUMS: 40x / 35x–225x (ar tālummaiņas objektīvu) ATTĒLA LAUKS: 8 mm vai 9 mm–1,5 mm (ar tālummaiņas objektīvu) VIRSMAS APGAISMOJUMS: 4-segmentu LED gredzenveida apgaismojums (pēc izvēles koaksiālais apgaismojums) CAURGAISMAS APGAISMOJUMS: LED (pēc izvēles telecentrisks) POZICIONĒŠANAS PALĪGLĪDZEKLIS: lāzera rādītājs GALDA SLĒGUMS: maksimāli 20 kg PIEGĀDES KOMPLEKTS: QZW1, 23" skārienjutīgais dators, M3 programmatūra, kalibrācijas sertifikāts, lietotāja rokasgrāmata Pielietojuma iespējas QZW1 produktu līnija nodrošina ļoti precīzus, atkārtojamus mērījumus sarežģītiem darba priekšmetiem no dažādiem materiāliem. Pateicoties plašām izvēles iespējām — tālummaiņas objektīvam, dažāda garuma Z asīm un dažāda izmēra mērīšanas galdiem — QZW1 pielāgojas visām detaļu specifiskajām mērījumu prasībām.